多載板老化機 (MBIT)

獨立老化一站式測試平台

多通道老化測試系統專為研發與品保需求而設計，每組插槽皆獨立設定電流、溫度與測試時長，如同擁有四台迷你烤箱，大幅提升測試效率。系統支援多種老化條件，並可即時監控每通道的電力輸出與溫度狀態，確保測試數據可靠。靈活的插槽設計適用於TO-Can、COB封裝、光電元件與各類IC，讓您快速構建一站式量測平台，顯著縮短驗證週期、提升產品良率。

(產品模擬示意圖)

產品特色

提供載板獨立老化條件（供電、高溫、長時間）
整合四個插槽，等同於四個烤箱
每個載板可載多通道(ex 64Ch)，獨立供電
各通道具備監控功能，實時監測老化過程
應用於可靠度分析、HTOL，適合RD與QA
可適用產品TOcan、COB、光電產品、IC等

產品規劃設計

本系統由電流源板、加熱板、測試板與轉接主板組成，並由電腦統一控制老化條件（電流、溫度與時間）。電流源板採64通道設計，提供每通道30 ± 0.1 mA獨立電流輸出，並具備Vf與ILD監控功能，最高輸出電壓可達20 V。加熱板則各自獨立控溫，並強化密閉保溫性能；測試板同樣為64通道，插座與金屬板結合設計可強化均溫性，並在TO Header附近配置2–3個感溫點以提升溫度偵測精度。轉接主板負責串接各板，可在單台機台內最多放入四組模組（本方案示意圖中配置三組），滿足高效、靈活的一站式老化測試需求。