澤群科技提供多元化的自動化測試與老化解決方案，涵蓋晶片熱應力、雷射元件與IC量測需求。多通道加熱器能同時為多片測試板提供高溫烘焙，獨立通道設定，彷彿4個小型烤箱，適合長時間老化驗證。Burn‑In Tester 烤箱系統整合溫控、定電流與資料監控功能，實現產品高溫老化與長周期壽命測試。BI‑EML 端老化機適用於高精度電流與溫控老化測試，支援多通道控制與持續監測。同時，我們的IC 自動化量測整合系統能結合多項測試模組，實現高效率的自動老化與量測流程，顯著縮短驗證時程與人工作業，透過模組化硬體、高精度控制與即時監控，提供能量與資料同時驅動的測試生態系統，適用於研發、量產與品質驗證全流程，是智慧製造與半導體驗證上的強大支援。